电子产品加速寿命试验研究

• 作者: 李军 缪海杰
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 加速寿命试验 电子产品
• 年，卷（期）: 2011,（11）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 33-35
• 分类号: TB114.3
• 字数: 2185字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2011.11.009

摘要

电子产品的使用者希望在其工作寿命内尽可能少发生甚至不发生故障,这对电子产品的可靠性提出了较高的要求。制造者为了确保电子产品的可靠性,必须针对产品作一系列的可靠性试验,加速寿命试验是可靠性试验中最普遍和重要的项目。本文简要介绍加速寿命试验的各种模型和它们的适用条件,分析各种加速寿命试验的优缺点。基于加速寿命试验的基本原理,并根据电子产品的具体特点,探讨了加速寿命试验它在电子产品检验中的具体应用技术。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李军	中国工程物理研究院电子工程研究所	57	233	9.0	14.0
2	缪海杰	中国工程物理研究院电子工程研究所	3	13	1.0	3.0