泰克TLA7SA00系列逻辑分析仪荣获最佳测试奖

• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 逻辑分析仪 泰克公司 测试 SYSTEMS World 嵌入式系统 总线分析仪 评奖活动
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 页码范围: 63
• 页数: 1页
• 分类号: TP393

摘要

泰克公司日前宣布，其TLA7SA00系列逻辑分析仪在《Test＆ Measurement World》的2011年度评奖活动中荣获“最佳测试奖”（Best in TestAward）。在2011年5月4日“嵌入式系统大会”（Embedded Systems Conference）举行期间进行的颁奖仪式上，TLA7SA00系列逻辑分析仪被授予“总线分析仪”类别的最佳产品奖。“最佳测试”奖分16个类别。