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赛灵思:FPGA28nm时代正式到来
赛灵思:FPGA28nm时代正式到来
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摘要：
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赛灵思静态随机存储器型FPGA单粒子翻转检测
现场可编程门阵列
单粒子翻转
配置存储器
检测
28 nm超大规模FPGA的BRAM单粒子效应测试方法研究
现场可编程门阵列
单粒子效应
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天然气时代何时到来
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电子与电脑
主办单位：
电子工业出版社
出版周期：
月刊
ISSN：
1000-1077
CN：
11-2199/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-888
创刊时间：
1984
语种：
chi
出版文献量（篇）
5969
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1
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