芯片级BIST控制器的设计与实现

• 作者: 夏海宝 孟觉 樊晓光 邬蒙
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 控制器 内建自测试 芯片级 多扫描链 压缩向量
• 年，卷（期）: 2011,（21）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 238-240,251
• 分类号: TP332.3
• 字数: 4065字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2011.21.081

摘要

为适应某型国产航电设备故障的实时自检测及定位需要,设计一个针对自测试电路的芯片级BIST控制器.传统的测试方法存在测试时间长和故障覆盖率不高的缺点.为此,采用伪随机测试向量和确定性测试向量相结合的混合BIST技术及多扫描链、压缩向量技术,对芯片级BIST控制器进行研究,给出功能模块的设计方案.利用Quartus Ⅱ软件对设计进行仿真,测试结果证实该设计可达到某型航电设备的故障自检测要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	樊晓光	空军工程大学工程学院	85	710	13.0	24.0
2	夏海宝	空军工程大学工程学院	49	171	7.0	9.0
3	邬蒙	空军工程大学工程学院	20	112	6.0	9.0
4	孟觉	空军工程大学工程学院	2	9	2.0	2.0