光学元件群延迟的直接测量

• 作者: 于靖 孙青 邓玉强
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 色散测量 白光干涉 时间频率分析 超快激光
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 物理学交叉学科及有关科学技术领域
• 页码范围: 712-716
• 分类号: O4
• 语种: 中文

摘要

提出了一种测量群延迟的新方法,利用白光干涉仪产生的光谱干涉,通过时间频率联合分析直接得出群延迟,减小了传统相位差分方法产生的误差,并通过测量结果减去系统背景,进一步提高了光学元件色散测量的准确度.该方法适合于具有复杂色散光学元件群延迟和色散的准确测量,也适合于慢光器件群速度延迟的测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于靖	中国计量科学研究院光学所	19	83	5.0	8.0
2	邓玉强	中国计量科学研究院光学所	19	24	3.0	3.0
3	孙青	中国计量科学研究院光学所	12	16	2.0	3.0