直流辉光放电质谱法测定多晶硅中关键杂质元素的相对灵敏度因子

• 作者: 何品刚 刘洁 卓尚军 斯琴毕力格 钱荣
• 来源期刊: 分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 直流辉光放电质谱 多晶硅 杂质元素 相对灵敏度因子
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 66-71
• 分类号: O657.63
• 字数: 4423字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1096.2012.10652

摘要

采用直流辉光放电质谱(dc-GD-MS)测定多晶硅中关键杂质元素的相对灵敏度因子(RSF).标样制作过程中主要是在连续通入氩气条件下将固定量的非标准多晶硅样品熔化,向硅熔体中均匀掺入浓度范围为1～30 μg/g的关键杂质元素(如B和P),采用快速固化法制成标样；再将制成的标准样品加工成一系列适合GD-MS扁平池(Flat Cell)的片状样品(20 mm×20 mm×2mm).采用二次离子质谱法(SI-MS)对标准样品中关键掺杂元素进行多次定量测定,取平均值作为关键杂质元素的精确含量.优化一系列质谱条件后,运用GD-MS对标样中关键掺杂元素的离子强度进行多次测定,计算平均结果,得到未校正的表观浓度,利用标准曲线法计算出关键杂质元素的相对灵敏度因子.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何品刚		100	1104	18.0	30.0
2	刘洁		47	612	10.0	24.0
6	钱荣	中国科学院上海硅酸盐研究所上海质谱中心	10	53	4.0	7.0
7	斯琴毕力格	中国科学院上海光学精密机械研究所	3	27	3.0	3.0
8	卓尚军		1	9	1.0	1.0