片上系统测试数据压缩的优化型FDR编码机制

• 作者: 吴宁 张颖 葛芬
• 来源期刊: 南京航空航天大学学报（英文版）
• 学科: 工学
• 关键词: 测试数据压缩 FDR编码 测试源划分 片上系统
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 页码范围: 77-83
• 分类号: TP302
• 字数: 1024字
• 语种: 英文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-1120.2012.01.011

摘要

测试数据压缩是片上系统(System-on-chip,SoC)测试中的关键问题之一,用于有效地减少测试数据总量.本文提出了一种新颖的变长-变长压缩编码,称为AFDR (Advanced frequency-directed run-length)编码.它同时对0游程和1游程进行编码,并对等长游程赋以相同的编码,优化了仅仅考虑o游程的FDR (Frequency-directed run-length)码.此外,对游程长度为2的数据(即00和11)进行特殊处理,进一步地提高了压缩比.ISCAS 89标准电路下的实验结果表明,AFDR编码的压缩效果明显优于FDR编码以及同类型的其他编码.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛芬	南京航空航天大学电子信息工程学院	26	204	7.0	13.0
2	吴宁	南京航空航天大学电子信息工程学院	78	622	12.0	22.0
3	张颖	南京航空航天大学电子信息工程学院	53	235	8.0	13.0