基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
随着InSb红外焦平面探测器的发展,焦平面阵列规模越来越大,像元面积越来越小.湿法刻蚀因其各向同性的特点,导致像元钻蚀严重,越来越难满足大规格InSb焦平面器件的要求.研究了以Ar/CH4/H2作为刻蚀气体,利用电感耦合等离子体(ICP)刻蚀大规格InSb晶片的初步研究结果,研究不同RF功率、腔体压力和Ar的含量对刻蚀速率、表面形貌的影响及InSb表面残留聚合物的去除方法.
推荐文章
电感耦合等离子体刻蚀GaN材料的工艺研究
电感耦合等离子体刻蚀
GaN
刻蚀速率
选择比
直流偏压
等离子体刻蚀金刚石膜的研究方法及现状
等离子体刻蚀
金刚石膜
进展
等离子体刻蚀中工艺参数对刻蚀速率影响的研究
感应耦合等离子体
干法刻蚀
电感耦合等离子体刻蚀InSb芯片工艺的研究
InSb焦平面阵列
各向同性
表面形貌
电感耦合等离子体(ICP)
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 InSb的电感耦合等离子体刻蚀技术研究
来源期刊 红外技术 学科 工学
关键词 干法刻蚀 电感耦合等离子体(ICP) InSb 刻蚀速率
年,卷(期) 2012,(3) 所属期刊栏目 材料与器件
研究方向 页码范围 151-154
页数 分类号 TN304.2+3
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.03.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张国栋 中国空空导弹研究院光电器件研究所 10 49 5.0 6.0
2 徐淑丽 中国空空导弹研究院光电器件研究所 3 11 2.0 3.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (30)
共引文献  (102)
参考文献  (10)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1990(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1991(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1993(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1994(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
1996(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1997(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1998(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1999(5)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(5)
2000(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2001(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2002(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2003(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2004(4)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(3)
2005(5)
  • 参考文献(3)
  • 二级参考文献(2)
2006(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2007(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2008(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2009(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
2012(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
干法刻蚀
电感耦合等离子体(ICP)
InSb
刻蚀速率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外技术
月刊
1001-8891
53-1053/TN
大16开
昆明市教场东路31号《红外技术》编辑部
64-26
1979
chi
出版文献量(篇)
3361
总下载数(次)
13
总被引数(次)
30858
论文1v1指导