成像、光学与光子学的统计学

• 作者: Peter Bajorski 聂树真
• 来源期刊: 国外科技新书评介
• 学科: 数学
• 关键词: 统计学 成像 光学 光子学 光电子学 业内人士 定量分析 统计推断
• 年，卷（期）: gwkjxspj_2012,（4）
• 页码范围: 16-16
• 页数: 1页
• 分类号: O212

摘要

在成像科学领域，学生和业内人士越来越迫切的需要掌握一些必要的理论知识和科学工具，以实现数据的定量分析处理。在本书中，成像、光学和光电子学的统计学研究能够为许多领域提供必要的分析技术手段，例如遥感、色彩学、印刷和天文学等。作者将重点聚焦在统计推断上，提供了广泛的相关统计方法，在成像、光学和光电子学与统计数据分析之间搭建了一峦标耀．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	聂树真	中国科学院光电研究院	54	7	1.0	2.0