方波脉冲下电磁线绝缘寿命及局部放电特性分析

• 作者: 吴广宁 张依强 徐慧慧 徐跃 曹开江 罗杨
• 来源期刊: 西南交通大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 变频牵引电机 电磁线 绝缘寿命 局部放电
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 页码范围: 1009-1014
• 页数: 6页
• 分类号: TM835|TM851
• 字数: 2758字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-2724.2012.06.016

摘要

为探讨方波脉冲电压下电磁线的绝缘老化及破坏机理,采用高频高压脉冲绝缘寿命试验装置和局部放电测试系统,研究了不同频率和上升时间下的电磁线的绝缘寿命、局部放电特性及其影响因素,得到了方波脉冲电压下频率的绝缘老化寿命模型和上升时间的绝缘老化寿命模型.研究结果表明:随着脉冲频率的升高和上升时间的缩短,局部放电活动增强,电磁线寿命降低；上升时间的绝缘老化寿命模型和频率的绝缘老化寿命模型的相关系数分别为0.93和0.95.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴广宁	西南交通大学电气工程学院	458	6939	39.0	56.0
2	曹开江	西南交通大学电气工程学院	24	410	14.0	19.0
3	罗杨	西南交通大学电气工程学院	30	555	16.0	23.0
4	张依强	西南交通大学电气工程学院	14	325	10.0	14.0
5	徐慧慧	西南交通大学电气工程学院	10	226	7.0	10.0
6	徐跃		3	52	3.0	3.0