电子器件生存概率及置信度的Bayes计算方法

• 作者: 吴成迈 林源根 段占元 郭春营
• 来源期刊: 信息与电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: Bayes方法 小子样 生存概率 置信度 二项分布 正态分布 产生正态性能分布
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 微光机电与物理电子技术
• 页码范围: 754-758
• 页数: 5页
• 分类号: TN606
• 字数: 3158字
• 语种: 中文

摘要

针对工程实践中经常遇到的小子样问题,分别以无信息分布、正态分布、产生正态性能分布作为电子器件生存概率随机变量的验前分布,给出了二项抽样实验验后生存概率密度的具体形式,根据某电子器件电流损伤阈值实验数据,得到特定辐射环境下器件生存概率的Bayes点估计、一定置信度下的双边估计、单边估计.仿真结果表明,产生正态性能验前分布要优于无信息分布和正态验前分布,该方法可以应用到工程实践中.