基于分子结的分子电子器件电性能研究

• 作者: 左国防 张建斌 雷新有
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 分子结 分子电子学 分子导体 库化阻塞
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 所属期刊栏目: 新型元器件
• 页码范围: 168-171
• 分类号: TN103
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2010.10.054

摘要

介绍了分子电子学的发展背景,并通过电极、分子以及电极-分子接触界面的分子结技术,对电极-分子-电极结中的电子传递现象进行了解释.另外,结合STM和裂分结技术,探讨了分子结中分子电子的测试方法,并对基于分子结中的分子电子器件的库仑阻塞、Kondo效应以及动力学随机记忆等进行了讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	左国防	天水师范学院生命科学与化学学院	60	279	9.0	14.0
2	张建斌	天水师范学院生命科学与化学学院	20	35	3.0	5.0
3	雷新有	天水师范学院生命科学与化学学院	42	141	6.0	10.0