一种FPGA验证与测试方法介绍

• 作者: 万书芹 张凯虹 陈诚
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 自动测试系统(ATE) 现场可编程门阵列(FPGA) 测试
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 页码范围: 15-17
• 分类号: TN407
• 字数: 989字
• 语种: 中文

摘要

文章重点介绍了一种FPGA验证与测试的方法.该测试方法的优点是不依赖于芯片设计与测试机台,低成本、开发周期短.基于PC、ATE与自制转换软件,对FPGA验证与测试开发技术进行研究.PC主要完成bin文件的生成,自制转换软件主要将bin文件转换为机器可识别的atp文件.ATE导入配置文件、完成信号输入与输出验证.基于该理论对Xilinx公司的XCV1000进行了实验,实验表明该方法可行并能快速实现测试开发与芯片验证,且具有很好的通用性,可用于其他FPGA芯片的测试、研究与验证,还可以应用于不同的ATE机台.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	万书芹		21	72	5.0	7.0
2	陈诚		9	9	2.0	2.0
3	张凯虹		20	27	3.0	4.0