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摘要:
测量了脉冲激光诱发半导体p-n结的瞬态脉冲电流,研究瞬态脉冲幅值和收集电荷与能量、偏压及入射位置的相关性.研究结果表明,瞬态脉冲信号幅值和收集到的总电荷随脉冲激光能量的增大而增多,与激光能量呈指数关系;收集电荷随偏压而增大;敏感区内的收集电荷数相差不大,远离敏感区的收集电荷明显减小.另外,将研究结果与重离子试验数据进行比对,两者有一定的相似性,但电荷收集脉冲幅值、脉冲波形有一定的差异.其结果为深入研究激光模拟单粒子效应技术奠定了基础.
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文献信息
篇名 p-n结脉冲激光诱发电荷收集试验研究
来源期刊 核技术 学科 工学
关键词 半导体p-n结 脉冲激光 电荷收集 单粒子效应
年,卷(期) 2012,(5) 所属期刊栏目 低能加速器技术、射线技术及应用
研究方向 页码范围 357-360
页数 分类号 TN406
字数 2500字 语种 中文
DOI
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研究主题发展历程
节点文献
半导体p-n结
脉冲激光
电荷收集
单粒子效应
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
核技术
月刊
0253-3219
31-1342/TL
大16开
上海市800-204信箱
4-243
1978
chi
出版文献量(篇)
4560
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