边界扫描突出优势解析

• 作者: 吴勇 杨莹 王媛媛 王雪茹
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描测试 IEEE1149 故障分析 电子系统 传统测试
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 页码范围: 270-271
• 分类号: TH8
• 字数: 2618字
• 语种: 中文

摘要

本文基于现阶段电子系统测试的各类工具的比较,进而展示边界扫描测试技术的优势,分别从芯片的发展,产品设计周期到检测故障与广泛应用领域几个方面进行论述,更加全面了突出了边界扫描的优势,并为电子系统各类电子工程师提供更系统,有效的借鉴.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴勇		18	23	3.0	4.0
2	杨莹		9	13	3.0	3.0
3	王雪茹		2	8	2.0	2.0
4	王媛媛		1	3	1.0	1.0