双界面智能卡芯片中“盲区问题”的分析与解决

• 作者: 万培元 林平分 陈俊
• 来源期刊: 中国集成电路
• 学科: 工学
• 关键词: 双界面智能卡 ISO/IEC14443 整流器 限幅器
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 设计
• 页码范围: 38-42
• 页数: 5页
• 分类号: TN492
• 字数: 1157字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-5289.2012.04.059

摘要

本论文针对13.56MHz双界面智能卡芯片（通信标准遵循ISO/IEC14443 type A）在非接模式下的中间场强（3A/m-6A/m）中出现的交互失败（盲区问题）进行了测试和分析,并对以前芯片中的模拟前端部分的限幅器和电源模块重新进行电路和版图设计。论文中该芯片采用SMIC 0.18μm CMOS eflash工艺进行设计与仿真,并流片验证。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林平分		10	13	2.0	3.0
2	陈俊		3	1	1.0	1.0
3	万培元		4	7	2.0	2.0