一种高可靠大容量星载存储器的设计与研究

• 作者: 张伟功 朱晓燕 荣金叶 邱庆林
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: NAND Flash 高可靠 大容量 存储器
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 页码范围: 61-63,67
• 分类号: TP202
• 语种: 中文

摘要

凭借着存储密度大和存储速率高的特点，基于NANDFlash的大容量存储器在星载存储领域得到了广泛的应用，由于NANDFlash本身存在缺陷，基于NANDFlash的大容量存储器在恶劣环境下的可靠性难以保证．提出了通过FPGA设计SRAM对关键数据三模冗余读取和缓冲、NANDFlash阵列热备份和数据的回放校验以及合理的坏块管理等措施，实现了高可靠性的大容量存储器．实验说明该系统不会因为外在偶然因素而造成数据的不完整，而且整个存储系统的成本开销相对于目前的星载存储器也非常低．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张伟功	首都师范大学北京市高可靠嵌入式系统工程技术研究中心	43	138	6.0	9.0
2	朱晓燕	首都师范大学北京市高可靠嵌入式系统工程技术研究中心	8	42	5.0	6.0
3	荣金叶	首都师范大学北京市高可靠嵌入式系统工程技术研究中心	3	10	2.0	3.0
4	邱庆林	首都师范大学北京市高可靠嵌入式系统工程技术研究中心	2	6	1.0	2.0