求解测试集优化问题

• 作者: 付帅 付欣
• 来源期刊: 科技通报
• 学科: 工学
• 关键词: 测试集优化 测试矢量 冗余结构
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 工业技术
• 页码范围: 96-97,100
• 分类号: TP302.7
• 字数: 2052字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-7119.2012.06.034

摘要

数字电路的测试生成通常是求解一个或一组测试矢量,这些测试矢量能够激活原始故障,并将这些故障效应传递到最终的输出端.测试集优化的基本目标是确定有效的测试矢量,即通过这些测试向量可以区分电路的正常状态与故障状态.目前随着各种智能优化算法的深入研究发展,针对测试集的优化方案也成为了这些智能策略发挥的舞台.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	付帅	东北师范大学人文学院	21	32	3.0	5.0
2	付欣		37	83	5.0	7.0