重离子轰击Ta靶引起的多电离效应

• 作者: 任洁茹 周贤明 孙渊博 张小安 徐戈 李永峰 李耀宗 梁昌慧 王兴 王瑜玉 程锐 肖国青 虞洋 赵永涛 雷瑜
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线 荧光产额 高电荷态离子 多电离效应
• 年，卷（期）: 2012,（19）
• 所属期刊栏目: 原子和分子物理学
• 页码范围: 140-144
• 分类号: O484.1
• 语种: 中文

摘要

在兰州重离子加速器国家实验室分别测量了H＋，He2＋，Ar11＋和Xe20＋离子轰击Ta表面过程中辐射的X射线谱，并得到了Ta特征X射线谱中Mγ（M3N5）和Mαβ（M4，5N6，7）线的强度，即Ⅰγ和Ⅰαβ．分析结果表明，强度比值Ⅰγ/Ⅰαβ随着入射离子原子序数的增加而显著增加，这是由于碰撞过程中Ta原子的多电离效应使M3支壳层的荧光产额ω3产生了显著增强．