大规模芯片测试系统的研究与实现

• 作者: 方燕飞 李岱峰 王俊 郑岩
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 大规模芯片 测试系统 模块 统计 测试管理 状态监控
• 年，卷（期）: 2012,（16）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 233-236
• 分类号: TP311
• 字数: 4154字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2012.16.061

摘要

针对大量芯片测试的实时管理问题,提出一种测试系统,将测试工作拆分为模块,分步骤、分阶段对芯片测试管理、状态监控采用摘要和层次化的处理,给出测试工作流程和数据结构.实验结果表明,该方法产生测试数据少、时间消耗小,能够有效解决大规模芯片测试的实时问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王俊		8	27	3.0	5.0
2	李岱峰		5	5	2.0	2.0
3	郑岩		12	4	1.0	2.0
4	方燕飞		8	30	3.0	5.0