基于STM32的Flash存储器坏块自动检测①

• 作者: 张亚辉 马胜前
• 来源期刊: 计算机系统应用
• 关键词: Nand Flash 自动检测 STM32 可变静态存储控制器 串口通讯
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 页码范围: 209-211,215
• 页数: 4页
• 字数: 2785字
• 语种: 中文

摘要

针对Nand Flash存储器存在坏块的问题，提出一种基于STM32的Flash存储器坏块自动检测方法，通过STM32内部可变静态存储控制器，发出相应的数据、地址、控制信号，在不增加外部器件的情况下，快速访问Flash存储器，并给出了部分硬件电路和C语言编写的程序代码。该设计已成功实现自动检测Flash坏块的功能；操作简单、检测速度快、准确率高；并能读取Flash的ID号检测Flash性能，同时能够存储和读取2GB数据。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马胜前	西北师范大学物理与电子工程学院	60	383	11.0	16.0
2	张亚辉	西北师范大学物理与电子工程学院	2	17	2.0	2.0