基于IBPSO的模拟电路故障特征提取方法

• 作者: 徐衡博 焦鹏 王新政
• 来源期刊: 兵工自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 故障特征提取 二进制粒子群优化算法 模拟电路
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 页码范围: 66-69
• 页数: 4页
• 分类号: TJ03
• 字数: 3271字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7690/bgzdh.2013.06.018

摘要

针对有效采样点法提取故障特征时冗余信息多、易造成维数灾等问题，提出利用改进的二进制粒子群算法提取故障特征。研究粒子群优化算法和二进制粒子群优化算法的差异以及在故障特征提取方面存在的不足，通过改进群体极值的更新方式避免搜索结果陷入局部最优。以Sallen-Key带通滤波器为诊断实例，完成9类模拟电路故障模式的特征提取。结果表明：通过该方法进行特征提取可有效降低故障诊断模型的复杂性，与二进制粒子群优化算法相比，该方法在特征维度和诊断准确率上具有明显的优势。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王新政	海军航空工程学院科研部	37	118	5.0	8.0