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摘要:
在“强光一号”上对BiMOS工艺运算放大器CA3140进行了瞬时电离辐射效应正交实验,研究了不同因素对CA3140输出端瞬时电离辐射扰动恢复时间的影响,得到了不同因素对恢复时间产生影响的主次顺序和显著水平,以及运算放大器在瞬时电离辐射环境下的最坏因素组合.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 运算放大器CA3140瞬时电离辐射效应正交实验研究
来源期刊 现代应用物理 学科 工学
关键词 正交设计 瞬时电离辐射效应 BiMOS 恢复时间
年,卷(期) 2013,(2) 所属期刊栏目 物理交叉学科与普通物理
研究方向 页码范围 207-212
页数 6页 分类号 TN431
字数 2418字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 林东生 33 148 8.0 10.0
2 王桂珍 32 156 7.0 9.0
3 杨善潮 28 101 6.0 7.0
4 李瑞宾 13 28 3.0 4.0
5 马强 10 26 3.0 4.0
6 金晓明 11 16 2.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
正交设计
瞬时电离辐射效应
BiMOS
恢复时间
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代应用物理
季刊
2095-6223
61-1491/O4
大16开
西安市69信箱15分箱
2010
chi
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