线阵探测器KLI-2113总剂量辐照性能试验分析

• 作者: 刘栋斌 张航
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电荷耦合器件 总剂量辐射 暗电流 电荷转移效率 损伤机理
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 器件制备及器件物理
• 页码范围: 611-616
• 页数: 6页
• 分类号: TN386.5
• 字数: 2057字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/fgxb20133405.0611

摘要

针对Kodak公司的商用CCD探测器KLI-2113进行了总剂量为30 krad(Si)的60Co-γ辐射试验.对比辐射前后CCD的主要参数变化,分析了总剂量辐射对CCD 工作性能的影响,并研究了总剂量辐射导致CCD暗电流增大、电荷转移效率降低以及图像噪声增加等现象的内在机理,为后续CCD抗总剂量辐射加固提供依据和参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张航	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	13	58	5.0	7.0
2	刘栋斌	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	24	54	5.0	6.0