高效容错可逆的汉明码编码和检测电路

• 作者: 罗永龙 陈付龙 齐学梅
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 量子信息 可逆逻辑 容错 汉明码 FVG门 编码和检测
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 量子光学
• 页码范围: 586-593
• 分类号: TP331
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2013.05.013

摘要

为了检验传输过程中数据的可靠性,设计了容错可逆的汉明码电路.提出了一种新型的可逆逻辑门(FVG),并且完成了FVG门等价的量子实现.利用FVG门和现有的容错可逆门,实现了汉明码编码电路和检测电路.以(7,4)汉明码设计为实例,根据量子代价和延迟对其进行性能评估,结果证明该电路比现有电路的性能提高10％～20％,仿真实验结果显示,电路逻辑结构正确,性能可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈付龙	安徽师范大学数学计算机科学学院	84	340	10.0	14.0
5	罗永龙	安徽师范大学数学计算机科学学院	70	482	13.0	18.0
9	齐学梅	安徽师范大学数学计算机科学学院	19	114	8.0	10.0