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一种适用于闪存芯片的高可靠性擦除算法
一种适用于闪存芯片的高可靠性擦除算法
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摘要：
为了解决NOR结构快闪存储器的过擦除问题,提出一种适用于闪存芯片的高可靠性攘除算法.算法通过增加过擦除自动纠正机制,并在状态机的控制下产生过攘除自动纠正时序,从而达到自动纠正过擦除的目的.
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文献信息
| 篇名 | 一种适用于闪存芯片的高可靠性擦除算法 | ||
| 来源期刊 | 桂林电子科技大学学报 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 快闪存储器 NOR结构 擦除算法 过擦除 | ||
| 年，卷（期） | 2013,（6） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 453-455 | |
| 页数 | 3页 | 分类号 | TN402 |
| 字数 | 1451字 | 语种 | 中文 |
| DOI | |||
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研究主题发展历程
节点文献
快闪存储器
NOR结构
擦除算法
过擦除
研究起点
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期刊影响力
桂林电子科技大学学报
主办单位：
桂林电子科技大学
出版周期：
双月刊
ISSN：
1673-808X
CN：
45-1351/TN
开本：
大16开
出版地：
广西桂林市金鸡路1号
邮发代号：
创刊时间：
1981
语种：
chi
出版文献量（篇）
2598
总下载数（次）
1
总被引数（次）
11679
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