空间CCD图像传感器辐射损伤评估方法

• 作者: 冯展祖 张雷 杨生胜 高欣
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 工学
• 关键词: 电荷耦合器件(CCD) 空间辐射环境 辐射效应 电离总剂量 位移损伤剂量 辐射屏蔽
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 地面模拟试验技术
• 页码范围: 596-601
• 页数: 6页
• 分类号: TN402|TN406
• 字数: 5853字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2013.06.006

摘要

CCD图像传感器作为高灵敏度光电集成部件，易受空间辐射的影响而发生性能退化和工作异常。开展其辐射效应评价研究并制定相应的防护对策，是保证其在空间可靠应用的前提。文章通过地面模拟试验和辐射屏蔽计算，对空间用CCD图像传感器电离辐射损伤与位移损伤效应开展评估方法研究，为CCD抗辐射加固设计与地面评估试验提供参考。该方法也可用于其他光电器件和材料辐射效应评价。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高欣		6	11	2.0	3.0
3	杨生胜		58	120	5.0	7.0
9	冯展祖		4	12	2.0	3.0
13	张雷		1	0	0.0	0.0