利用白光干涉垂直扫描法测量波片延迟量

• 作者: 吴泉英 王军 臧涛成 陈磊
• 来源期刊: 激光与光电子学进展
• 学科: 工学
• 关键词: 光学测量 波片 延迟量 迈克耳孙干涉仪 偏振干涉 白光干涉垂直扫描
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 仪器,测量与计算
• 页码范围: 142-147
• 页数: 6页
• 分类号: O436.3|TN247
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/LOP50.011203

摘要

将白光偏振干涉、迈克耳孙干涉仪和垂直扫描系统相结合,提出了一种利用白光干涉垂直扫描测量波片延迟量(包括级次信息)的方法.准直的白光经偏振干涉系统形成两束偏振方向相同的线偏光,它们进入迈克耳孙干涉仪后分别被两干涉臂的平面镜反射形成四束光,在压电传感器(PZT)驱动干涉仪动镜垂直扫描的过程中,它们两两干涉,形成3组白光干涉包络.根据CCD各像素记录的白光干涉信号,计算白光干涉包络之间的光程差,即可获取被测延迟量.实验测量了一多级波片的延迟量,其结果(4268.1 nm)与使用光谱扫描法测量得到的结果(4269.9 nm)相吻合.