利用少数相关位的SoC测试数据压缩方法

• 作者: 梁华国 欧阳一鸣 谢涛 黄正峰 黄贵林
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 相关位 哈夫曼 测试数据压缩
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 76-82
• 页数: 7页
• 分类号: TP302
• 字数: 5193字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1187.2013.00076

摘要

随着系统芯片集成度的提高,芯片所需要的测试数据也越来越庞大,为解决由此带来的自动测试设备(ATE)存储容量和带宽之间的矛盾,提出了一种基于数据块之间极少数相同位或极少数不同位的测试数据压缩及解压算法.根据数据块之间这些极少数相同位或极少数不同位,低频次数据块与参与Huffman编码的高频次数据块取得相关性联系,并通过一定的方式共享其较短的哈夫曼码字,从而精简Huffman编码状态表,达到测试数据压缩的目的.与同类经典方案相比,实验表明该方案的平均压缩率提高了6.11％～22.89％,且算法简单.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	黄正峰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	590	14.0	19.0
3	欧阳一鸣	合肥工业大学计算机与信息学院	109	924	18.0	24.0
4	黄贵林	合肥工业大学计算机与信息学院	1	10	1.0	1.0