日盲紫外像增强型CCD疲劳特性测试

• 作者: 周跃 孔繁林 文刚 杨怀江 陈雪 隋永新
• 来源期刊: 激光与光电子学进展
• 学科: 物理学
• 关键词: 探测器 疲劳特性 日盲紫外像增强型CCD 光电模拟模式 光子计数模式
• 年，卷（期）: 2013,（11）
• 所属期刊栏目: 探测器
• 页码范围: 68-73
• 页数: 6页
• 分类号: O436
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/LOP50.110401

摘要

为评估日盲紫外(SBUV)像增强型CCD(ICCD)响应度随工作时间的变化规律,针对器件的两种典型工作模式设计了SBUV-ICCD疲劳特性测试方案,并构建装置对其进行了实验测量.首先结合SBUV-ICCD的基本结构和工作原理介绍了器件的两种工作模式;其次,定义了器件疲劳特性,提出了SBUV-ICCD疲劳性测试方案;最后,对两只SBUV-ICCD进行了疲劳特性测试,并分析了该测试方案的不确定度.实验结果表明:在光电模拟模式和光子计数模式下国内某型号SBUV-ICCD的疲劳特性分别为13％和3％,国外某型号SBUV-ICCD疲劳特性优于1％,本测试方案的不确定度为1％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈雪	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	46	418	11.0	18.0
2	隋永新	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	71	495	11.0	19.0
3	杨怀江	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	62	411	11.0	18.0
4	周跃	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	13	81	6.0	8.0
5	文刚	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	6	5	1.0	2.0
6	孔繁林	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	2	0	0.0	0.0