VLSI系统级软错误可靠性评价:综述

• 作者: 朱丹 李思昆 李暾
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误保护 可靠性分评价
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 高性能计算
• 页码范围: 15-24
• 页数: 10页
• 分类号: TP302.8
• 字数: 12350字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2013.03.003

摘要

由空间辐射、噪声干扰等环境问题引发的软错误给VLSI设计可靠性带来了严峻挑战.由于目前的软错误保护机制通常都基于冗余,因此,对电路进行完全的软错误保护需要的容错代价十分高昂,只能对设计进行有选择性的保护.软错误可靠性分析是有选择性保护的关键.为了在同时满足多种设计目标的前提下有效部署容错机制,平衡可靠性需求与容错开销,软错误系统级可靠性评价至关重要.按照核心技术的不同,本文对已有的软错误系统级可靠性评价方法进行分类及介绍,并详细分析了各类方法的进展和优缺点,总结了已有方法存在的问题和面临的挑战,指出了未来的发展方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李暾	国防科学技术大学计算机学院	29	182	7.0	12.0
2	李思昆	国防科学技术大学计算机学院	133	1339	18.0	31.0
3	朱丹	国防科学技术大学计算机学院	6	24	3.0	4.0