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嵌入式测试
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嵌入式系统
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文献信息
篇名 单芯片FRAM存储解决方案成为嵌入式设计的理想选择
来源期刊 EDN CHINA 电子技术设计 学科 工学
关键词 FRAM 存储解决方案 嵌入式设计 单芯片 铁电存储器 理想 读写速度 辐射特性
年,卷(期) 2013,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 50
页数 1页 分类号 TP333
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
FRAM
存储解决方案
嵌入式设计
单芯片
铁电存储器
理想
读写速度
辐射特性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
EDN CHINA 电子技术设计
其它
出版文献量(篇)
394
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3
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