SPR技术用于吸收介质的折射率虚部检测

• 作者: 张颖颖
• 来源期刊: 激光与光电子学进展
• 学科: 物理学
• 关键词: 传感器 表面等离子体共振 吸收介质 折射率虚部
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 遥感与传感器
• 页码范围: 186-191
• 页数: 6页
• 分类号: O436
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/LOP50.102802

摘要

该文数值模拟了表面等离子体共振(SPR)技术在吸收介质折射率虚部变化检测方面的应用.以菲涅耳多层膜反射理论为基础研究了强度调制、相位调制和角度调制三种检测方法.研究结果表明,角度调制方式拥有较高的检测分辨率(1×10-6 RIU,RIU为折射率单位)和较宽的线性测量范围(大于0.01 RIU),是一种较好的检测折射率虚部变化的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张颖颖		4	5	2.0	2.0