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摘要:
NoC(Network-on-Chip)中的异构IP核互连架构导致其测试应用时间过长,并行测试技术成为解决这个问题的最佳方案.本文提出了基于NoC架构的异构IP核并行测试方案,实现了异构IP核的高效并行测试.首先利用折叠分区方法将网络分区,提高测试传输并行性,然后通过顺序移位匹配算法将各异构IP核的测试集进行合并,实现测试集的精简和同构化,最后以多播方式将测试数据注入到网络中,实现测试应用的并行.实验结果显示,相比于文献[13,14],本文方法的测试时间减少了17.6%-40.47%,且实现简单.
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文献信息
篇名 NoC架构下异构IP核的并行测试方法
来源期刊 电子学报 学科 工学
关键词 片上网络 并行测试 同构化 折叠分区 测试应用时间
年,卷(期) 2013,(12) 所属期刊栏目 学术论文
研究方向 页码范围 2391-2396
页数 6页 分类号 TP302
字数 3595字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.12.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 梁华国 合肥工业大学计算机与信息学院 192 1611 19.0 30.0
5 黄正峰 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 101 590 14.0 19.0
6 欧阳一鸣 合肥工业大学计算机与信息学院 109 924 18.0 24.0
7 贺超 合肥工业大学计算机与信息学院 2 18 1.0 2.0
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研究主题发展历程
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并行测试
同构化
折叠分区
测试应用时间
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