确定用于生产的混合信号IC特性

• 来源期刊: EDN CHINA 电子技术设计
• 学科: 工学
• 关键词: 混合信号IC 测试 生产制造 可重复性
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 页码范围: 36,38-40,42
• 页数: 3页
• 分类号: TN792
• 语种: 中文

摘要

用于生产制造的集成电路必须有能满足潜在需求的大批量.即使实验室测试结果很好,也必须在生产中用自动测试设备(ATE)测试器件.此外,在设计交付给制造以前,还必须做全面的特性检验,以确认每个被测器件都会完全满足其电气规格,并揭示出任何可能在制造工艺中出现的工艺缺陷.在本文中,我们将着重讨论混合信号器件的特性,确保测试结果可重复性的检验统计技术,包括一种IC在其标称极端温度条件下的测试.