表面放电对聚酰亚胺薄膜材料的电气损伤特性研究

• 作者: 刘继午 吴广宁 张依强 彭佳 曹开江 朱光亚 罗杨
• 来源期刊: 中国电机工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 双极性方波脉冲电压 表面放电 PI薄膜 降解 微观形貌 分子结构
• 年，卷（期）: 2013,（25）
• 所属期刊栏目: 高电压技术
• 页码范围: 187-195
• 页数: 9页
• 分类号: TM215.3|TM851
• 字数: 3935字
• 语种: 中文

摘要

聚酰亚胺(polyimide，PI)薄膜作为特殊工程塑料在变频电机绝缘设计中得到了广泛应用，方波脉冲电压下的局部放电是造成变频电机绝缘系统失效的主要原因之一。为探讨放电对电机绝缘的损伤作用过程，基于ASTM 227501标准设计一套表面放电老化试验系统，并对PI薄膜进行老化试验。表面放电使介质表面碳化，增加了PI薄膜的表面电导率，这对表面放电活性有较大的影响；借助扫描电子显微镜聚酰亚胺(polyimide，PI)薄膜作为特殊工程塑料在变频电机绝缘设计中得到了广泛应用，方波脉冲电压下的局部放电是造成变频电机绝缘系统失效的主要原因之一。为探讨放电对电机绝缘的损伤作用过程，基于ASTM 227501标准设计一套表面放电老化试验系统，并对PI薄膜进行老化试验。表面放电使介质表面碳化，增加了PI薄膜的表面电导率，这对表面放电活性有较大的影响；借助扫描电子显微镜观察了不同放电老化阶段下PI薄膜表面及横截面的微观形貌，发现PI薄膜的降解是从试样表面逐渐向内部发展的过程；采用傅里叶红外光谱(Fourier transform infrared spectroscopy，FTIR)分析了PI薄膜在老化前后的FTIR图谱，发现 PI 分子主链上的醚键(C-O-C)和酰亚胺环(C-N-C)键在放电老化作用下断裂，表面放电侵蚀造成有机分子链断裂是聚合物降解的本质原因。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴广宁	西南交通大学电气工程学院	458	6939	39.0	56.0
2	曹开江	西南交通大学电气工程学院	24	410	14.0	19.0
3	罗杨	西南交通大学电气工程学院	30	555	16.0	23.0
4	张依强	西南交通大学电气工程学院	14	325	10.0	14.0
5	刘继午	西南交通大学电气工程学院	8	121	7.0	8.0
6	彭佳	西南交通大学电气工程学院	13	273	9.0	13.0
7	朱光亚	西南交通大学电气工程学院	17	185	8.0	13.0