TFT-LCD器件氧化铟锡层无退火工艺研究

• 作者: 卢凯 姜晓辉 崔玉琳 张家祥 曲连杰 王亮 郭建 阎长江 陈旭
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 无退火工艺 透过率 氧化铟锡层 TFT特性
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 器件物理及器件制备技术
• 页码范围: 55-59
• 页数: 5页
• 分类号: TN141.9
• 字数: 2513字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20142901.0055

摘要

对TFT-LCD器件氧化铟锡(ITO)层无退火新工艺进行了深入研究,通过将氧化铟锡相变与聚酰亚胺(PI)膜固化过程同步进行,简化了工艺过程,节约了生产成本.采用无退火工艺氧化铟锡膜层的平均电阻值和膜层透过率与传统高温退火工艺下基本相同,可以实现低的电阻值和高的透过率.无退火工艺下PI膜表面平整均匀,氧化铟锡膜与PI膜界面结合良好,无鼓包、麻点等,也没有反应产物生成;经过TFT特性测试发现,无退火工艺比高温退火工艺条件下,无论暗态还是光照状态,开电流没有明显区别,漏电流可降低44％;通过无退火工艺和传统高温退火工艺制备的液晶显示屏的V-T特性相同.