设计了一种新的低压、高速、高线性度的双通道 MOS 开关栅压自举电路,该电路采用同时自举NMOS 和 PMOS 的并行结构,不但降低了 MOS 开关的导通电阻值,同时在输入信号的全摆幅范围内实现了常数的导通电阻;考虑了器件可靠性要求且与标准的 CMOS 工艺技术兼容.采用0.13μm CMOS 工艺和1.2 V 工作电压的仿真实验表明,提出开关的导通电阻在全摆幅输入信号范围内的变化量小于4.3%;在采样频率为100 M Hz ,输入峰峰值为1 V ,输入频率为100 M Hz时,提出开关的总谐波失真达到-88.33 dB ,较之传统的 NMOS 自举开关以及标准的 CMOS 传输门开关,分别提高了约-14.8 dB 和-29 dB .设计的开关可应用于低压、高速高精度的开关电容电路中.