弯曲损耗不敏感单模光纤宏弯谱损耗测试分析

• 作者: 丁雪 宋志佗 李春生 李琳莹 甘露
• 来源期刊: 现代传输
• 关键词: 弯曲不敏感单模光纤 宏弯损耗 Whispering gallery modes
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 实验与研究
• 页码范围: 63-65
• 页数: 3页
• 字数: 1902字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5137.2014.04.007

摘要

本文通过实验的方法分析比较了G.657光纤宏弯性能测试中可能的Whispering gallery modes在不同测试条件下对测试结果的影响,报告了在宏弯损耗测试中根据需要采用绕多圈方法以增强宏弯损耗测试的响应效果,以减小Whispering gallery mode对测试结果影响的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋志佗		14	40	4.0	5.0
2	李春生	北京邮电大学信息光子学和光通信国家重点实验室	16	20	3.0	4.0
3	甘露		7	20	3.0	4.0
4	李琳莹		7	19	3.0	4.0
5	丁雪		1	2	1.0	1.0