TFT-LCD缺陷检测系统的研究

• 作者: 刘永丰 徐江伟 王新新 王秀丽 邹伟金
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: TFT-LCD 算法 Gabor滤波 Mura
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 278-284
• 页数: 7页
• 分类号: TN911.73|TP2
• 字数: 2487字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13382/j.jemi.2014.03.008

摘要

随着TFT-LCD的技术飞速发展及广泛应用,人工检测良品率的方法已不能保证检测效率和检测精度.针对此问题,提出了一种基于机器视觉理论的TFT-LCD缺陷检测系统,用以满足工业自动化的需求.该系统搭建面阵CCD采集图像平台,检测算法包括提取图像的ROI区域、Gabor滤波、自适应二值化、连通域提取缺陷、计算缺陷的属性特征并标记轮廓线等步骤,最后得出结果.实验结果表明,检测系统对点缺陷、线缺陷的识别率非常高,Mura缺陷针对正视可见的效率良好.提出了一种耦合性好的检测方法,针对不同种类的缺陷采用同一种检测技术,简明、方便、准确地实现了缺陷检测,并可实际应用到工业自动化中.