基于自适应遗传算法的方向图综合

• 作者: 卢凯 吴玮琦 石力 陈鑫
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 阵列天线 基函数 遗传算法 方向图综合
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 169-177
• 页数: 9页
• 分类号: TN820.1+2
• 字数: 5656字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13443/j.cjors.2013030501

摘要

提出了一种改进的方向图综合方法.该方法以遗传算法为基础,以正交基函数表示天线口径分布,并且在优化过程中,对交叉概率、变异概率和变异范围同时进行自适应的变化.和原有的遗传算法相比,该算法减少了优化变量的数目,天线激励的相位和幅度曲线更光滑,提高了收敛的速度,并且缩小了幅度的动态变化范围.线阵和面阵的仿真结果均表明,该方法实用、高效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石力		1	16	1.0	1.0
2	陈鑫		1	16	1.0	1.0
3	吴玮琦		1	16	1.0	1.0
4	卢凯		7	29	3.0	5.0