基于 X荧光涂层厚度测量的试验研究

• 作者: 屈国普 赵越 黄亮 黄明
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 关键词: 涂层测厚 X荧光 反射法 工作曲线
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 页码范围: 866-868,873
• 页数: 4页
• 字数: 1946字
• 语种: 中文

摘要

涂层厚度的控制至关重要，如果涂层厚度没有达到设计标准，对产品性能影响很大。利用实验室仪器搭建起一套涂层测厚试验平台，本试验中以铜、铁作为试验样品，用油漆作为涂层。利用射线穿过物质时的指数衰减规律I＝I0 e－μx ，用不同涂层厚度的标准样品进行标定以后，作出工作曲线；测量铜、铁两种基底上的涂层厚度，在涂层厚度介于0．01 g／cm2－0．06 g／cm2的范围内，相关系数分别为0．992和0．995，表明此测厚方法是可行的。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	屈国普	南华大学核科学技术学院	103	338	9.0	11.0
2	赵越	南华大学核科学技术学院	39	56	4.0	5.0
3	黄亮	四川大学制造科学与工程学院	40	493	10.0	21.0
4	黄明	南华大学核科学技术学院	2	4	1.0	2.0