基于日盲紫外成像检测的复合绝缘子电晕放电光子数变化特性

• 作者: 冯宏恩 律方成 王胜辉
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 复合绝缘子 电晕放电 日盲紫外成像 光子数 电流脉冲峰值 仪器增益 观测距离 拟合分析
• 年，卷（期）: 2014,（8）
• 所属期刊栏目: 输变电系统状态评价及故障诊断
• 页码范围: 2360-2366
• 页数: 7页
• 字数: 3460字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.08.016

摘要

为将光子数参数用于放电强度的量化分析,以10、35、110kV的复合绝缘子为研究对象,利用CoroCAM504紫外成像仪研究了电晕放电时,紫外光子数随放电强度、仪器增益和观测距离的变化特性.结果表明:光子数和电流脉冲峰值具有近似线性关系,且都随着电压的增加而增大;但上述3种复合绝缘子的光子数与电流脉冲峰值之间的比例系数不同.随着仪器增益的增大,光子数一般呈现出先增加后减小、在高增益时又增加的变化特性,且观测距离越近,仪器增益对光子数的影响越显著.光子数随观测距离的增大而减小,2者之间具有幂函数关系,幂指数在1.1～1.6之间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	律方成	华北电力大学河北省输变电设备安全防御重点试验室	266	4998	37.0	55.0
2	王胜辉	华北电力大学河北省输变电设备安全防御重点试验室	44	478	15.0	20.0
3	冯宏恩	华北电力大学河北省输变电设备安全防御重点试验室	6	61	4.0	6.0