脉冲宽度对核电磁脉冲烧毁RS触发器效应的影响

• 作者: 吴强 曹雷团 杜正伟 米国浩 陈曦
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 核电磁脉冲 脉冲宽度 RS触发器 器件物理仿真 烧毁
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 复杂电磁环境
• 页码范围: 216-221
• 页数: 6页
• 分类号: TN386.1
• 字数: 3952字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201426.053203

摘要

利用实验室自主开发的二维半导体器件电路联合仿真器对RS触发器在核电磁脉冲注入下的烧毁情况进行研究,发现烧毁发生在RS触发器内n沟道增强型MOSFET栅极和漏极之间的沟道内.RS触发器烧毁的功率阈值随着脉冲宽度的增加而降低,当脉冲宽度大于80 ns后阈值变化很小.根据仿真结果,通过热传导方程对RS触发器的烧毁情况进行建模,得到了不同脉冲宽度核电磁脉冲注入下RS触发器烧毁功率阈值的理论模型,仿真结果证明了理论模型的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈曦		16	24	3.0	4.0
2	曹雷团		5	13	2.0	3.0
3	吴强		6	15	2.0	3.0