面向航空环境的多时钟单粒子翻转故障注入方法

• 作者: 姜承翔 李振 王鹏 田毅 薛茜男
• 来源期刊: 电子与信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 机载电子器件 单粒子翻转(SEU) 故障注入 抗辐射加固技术 FPGA
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 1504-1508
• 页数: 5页
• 分类号: TN07|V524.3
• 字数: 2822字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1146.2013.01296

摘要

随着新型电子器件越来越多地被机载航电设备所采用，单粒子翻转(Single Event Upset, SEU)故障已经成为影响航空飞行安全的重大隐患。首先，针对由于单粒子翻转故障的随机性，该文对不同时刻发生的单粒子翻转故障引入了多时钟控制，构建了SEU故障注入测试系统。然后模拟真实情况下单粒子效应引发的多时间点故障，研究了单粒子效应对基于FPGA构成的时序电路的影响，并在线统计了被测模块的失效数据和失效率。实验结果表明，对于基于FPGA构建容错电路，采用多时钟沿三模冗余(Triple Modular Redundancy, TMR)加固技术可比传统TMR技术提高约1.86倍的抗SEU性能；该多时钟SEU故障注入测试系统可以快速、准确、低成本地实现单粒子翻转故障测试，从而验证了SEU加固技术的有效性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王鹏	中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室	76	158	6.0	8.0
2	李振	中国民航大学安全科学与工程学院	4	21	3.0	4.0
3	田毅	中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室	18	51	4.0	6.0
4	薛茜男	中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室	13	34	4.0	4.0
5	姜承翔	中国民航大学安全科学与工程学院	2	9	2.0	2.0