PW50对于磁盘DLC层厚度变化的检测

• 作者: 吴迪
• 来源期刊: 电子世界
• 关键词: PW50 硬盘 DLC层
• 年，卷（期）: 2014,（20）
• 所属期刊栏目: 科研发展
• 页码范围: 150-150,151
• 页数: 2页
• 字数: 2921字
• 语种: 中文

摘要

伴随着社会的发展，人类所产生的数据每两年翻一番。到2020年，人类的数据总量可能会达到35千万亿兆，后续每年产生的数据更将可能达到4~5个Zeta Byte，这要求每年四到五亿片1TB的硬盘存储。硬盘已经成为了IDC的核心TCO，因此硬盘的性能质量对整个云存储有着关键影响。在硬盘结构中，磁盘媒介作为关键的存储部件，其有着复杂的分层结构用于保护磁场数据。其磁场媒介厚度不均的问题，对硬盘整体寿命和存储信号有着致命的影响。本文通过对硬盘磁头读信号的研究，提出利用磁头半脉冲读信号宽度(PW50)来检测磁盘存储媒介厚度不均的问题，在实验室环境中达到了预期的效果，有效地检测出磁存储媒介厚度的异常。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴迪		7	0	0.0	0.0