航天电子产品加速贮存试验技术综述

• 作者: 朱曦全 李星 王冀宁 胡彦平 陈津虎
• 来源期刊: 强度与环境
• 学科: 航空航天
• 关键词: 加速贮存试验 电子产品 全寿命周期
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 11-18
• 页数: 8页
• 分类号: V416.6
• 字数: 6699字
• 语种: 中文

摘要

对国内外航天电子产品加速贮存试验技术进行了总结和分析,提出了一种典型电子整机产品加速贮存试验技术方法.结合当前工程实践中存在的问题,对电子产品加速贮存试验技术发展提出了建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈津虎		18	27	3.0	4.0
2	李星		4	67	4.0	4.0
3	胡彦平		31	163	7.0	12.0
4	朱曦全		14	91	5.0	9.0
5	王冀宁		3	5	1.0	2.0