Cr20Ni35合金的晶粒尺寸对电阻率的影响

• 作者: 夏天东 王晓军 蔺伟康
• 来源期刊: 金属功能材料
• 关键词: Cr20Ni35合金 拉伸变形 再结晶退火 晶粒尺寸 电阻率
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 页码范围: 22-24
• 页数: 3页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13228/j.boyuan.issn 1005-8192.2015023

摘要

通过拉伸变形和再结晶退火改变Cr20Ni35合金的晶粒尺寸,研究晶粒尺寸对Cr20Ni35合金电阻率的影响.结果表明,Cr20Ni35合金经过拉伸变形后,随着伸长率的增加其电阻率出现递减的趋势,此时晶粒尺寸呈现递增的趋势;随后经过退火后,其电阻率值又重新升高,分析观察其金相组织,晶粒尺寸越小,电阻率越大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏天东		116	703	14.0	20.0
2	王晓军		56	433	12.0	19.0
3	蔺伟康		2	3	1.0	1.0