基于高光谱成像技术的苹果表面轻微损伤检测

• 作者: 牟鑫 田有文 程怡 胡博
• 来源期刊: 沈阳农业大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 高光谱成像 轻微损伤 检测 苹果
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 508-512
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.41|TP274.52
• 字数: 3477字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1700.2015.04.020

摘要

为了研究检测苹果表面轻微损伤的有效的方法,以红富士苹果为试验样本,通过高光谱成像采集系统采集苹果样本的高光谱图像,根据正常苹果表面区域和刚损伤、损伤后(3,10,24h)的损伤区域光谱反射率平均曲线得到有效光谱区域;用掩膜法对图像进行背景分割,并基于有效光谱区域做主成分分析,选取第四主成分(PC4)提取损伤区域,运用阈值分割的方法建立提取损伤区域的算法模型:应用该算法模型对正常苹果和损伤苹果进行检测.检测结果表明:正常苹果样本正确检测率达到100％,损伤苹果样本的正确检测率为97.5％,总体检测精确度高达98.75％,说明利用高光谱成像技术可以有效快速检测出苹果表面的轻微损伤.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田有文	沈阳农业大学信息与电气工程学院	68	945	17.0	29.0
2	胡博		5	25	2.0	5.0
3	牟鑫	沈阳农业大学信息与电气工程学院	3	36	3.0	3.0
4	程怡	沈阳农业大学信息与电气工程学院	5	113	5.0	5.0