一种面向TTL集成电路的小型检测仪设计

• 作者: 孙韩 朱军
• 来源期刊: 办公自动化（学术版）
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 故障检测 MCS51单片机
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 政务办公?商务办公
• 页码范围: 35-36
• 页数: 2页
• 分类号: TN431.2|TH89
• 字数: 1333字
• 语种: 中文

摘要

本文基于MCS51单片机，构建了一种面向TTL集成短路芯片的小型检测仪。该检测仪能快速、准确地对TTL系列数字逻辑芯片的逻辑功能进行检测，从而判断芯片的好坏和型号。该检测仪的使用，能减少了测试时间，提高了检测效率，降低了劳动强度。该检测仪具有良好的移植和扩展性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱军	安徽大学电子信息工程学院	77	399	10.0	17.0
2	孙韩	安徽大学电子信息工程学院	10	18	2.0	4.0